Dans la course à l’amélioration des dispositifs photovoltaïques, le CEA s’est positionné depuis plusieurs années sur le développement de cellules à hétérojonction de silicium, produites sur une ligne pilote situé sur le site de l’INES.
    Ses chercheurs ont mis au point une méthode de caractérisation basée sur l’analyse des défauts ponctuels sur les plaquettes de silicium et générés lors de toutes les manipulations des plaquettes, que ce soit lors de leur transport entre les différentes étapes de procédé, mais surtout lors de leur manipulation à l’intérieur des équipements par les systèmes automatisés (robots, préhenseurs/gripper, courroies, ventouses). Cette méthode utilise l’analyse d’images produites par électroluminescence et/ou photoluminescence et permet d’extraire un indicateur de défectivité pour chaque cellule. Cet indicateur est ensuite relié aux performances photovoltaïques des cellules.

    Le logiciel Cell-LumTool permet ainsi de corréler défectivité et rendement ,ce qui sera toujours plus stratégique pour toutes les technologies visant l’excellence et la haute performance. Aujourd’hui il est un outil R&D breveté différenciant propre au CEA qui aide à la compréhension des pertes en rendement sur sa ligne pilote. Demain, il pourra être déployé en production.

    Cell-LumTool est construit de façon à faciliter son déploiement sur toute plateforme requérant une analyse d’image de luminescence : automation, MES, équipement de production, outil de caractérisation en ligne etc. Le temps de traitement d’une image actuel rend l’outil déjà compatible avec un environnement industriel.